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15 第4章第2讲 动态存储器和教学计算机存储器设计.ppt

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本课件讲解动态存储器单元的工作原理与刷新要求,结合教学计算机存储器实例说明只读区与读写区的划分、地址译码、字位扩展与片选信号的具体设计,并给出大实验文档的提交要求。

第三单元层次存储器系统第二讲动态存储器讲次标题页,动态存储器芯片的读写原理与刷新要求
内容提要:有关大实验的说明、动态存储器要点列表,涵盖有关大实验的说明、动态存储器、教学计算机存储器设计等主要内容
关于大实验检查要点列表,涵盖请各组抓紧时间、15周(12月15日至、最终检查时间、地点请各班等主要内容
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第1页:第三单元层次存储器系统第二讲动态存储器

第三单元层次存储器系统第二讲动态存储器

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现动态存储器芯片的读写原理与刷新要求。

第2页:内容提要:有关大实验的说明、动态存储器

  • 有关大实验的说明
  • 动态存储器
  • 教学计算机存储器设计

第3页:关于大实验检查

关于大实验检查

  • 请各组抓紧时间,完成大实验设计和调试。
  • 15周(12月15日至19日)进行并完成最终检查。请同学们按组准备好以下材料:–调试完成的教学计算机
    • 检查方案:供检查设计的汇编语言程序以及预期结果(包含扩展指令)
    • 设计文档
  • 最终检查时间、地点请各班科代表在14周与我们确定。
  • 16周,请各班选出一组,在课堂上和大家交流

第4页:大实验提交文档列表

大实验提交文档列表

  • 指令系统设计文档
    • 指令系统列表
    • 设计说明;
  • 运算器设计文档
    • 线路逻辑图
    • 设计说明
    • 有关GAL芯片的逻辑表达式
  • 控制器设计文档(包括组合逻辑和微程序)
    • 线路逻辑图
    • 指令执行流程图
    • 指令执行流程表
    • 有关GAL、MACH芯片的逻辑表达式
  • 内存储器、总线、接口等部分设计文档
    • 线路逻辑图
    • 设计说明
  • 软件设计文档
    • 对监控程序、交叉汇编程序修改的文档和源程序
  • 组装、调试过程中遇到的问题和相应的解决办法
  • 项目完成后的心得体会、有关建议和意见

第5页:大实验评分标准

大实验评分标准

  • 完成基本要求,起评分数为80分,视情况酌情增减。–监控程序运行正确(微程序和组合逻辑)
    • 扩展指令能正常运行
    • 提供的实验报告完整,规范
  • 有创新和特色,可有加分因素。–修改了监控,能完成对扩展指令的汇编
    • 修改交叉汇编
  • 其他
    • 你们认为有特点的地方,可以陈述
  • 总评成绩=40%*考试成绩+50%*大实验成绩+10%*作业成绩
  • 若考试成绩低于特定值,则无论实验成绩如何,均为不及格

第6页:层次存储器系统选用生产与运行成本不同

6层次存储器系统选用生产与运行成本不同的、存储容量不同的、读写速度不同的多种存储介质,组成一个统一的存储器系统,使每种介质都处于不同的地位,发挥不同的作用,充分发挥各自在速度容量成本方面的优势,从而达到最优性能价格比,以满足使用要求。例如,用容量更小但速度最快的SRAM芯片组成CACHE,容量较大速度适中的DRAM芯片组成MAIN MEMORY,用容量特大但速度极慢的磁盘设备构成VIRTUAL MEMORY。

第7页:程序的局部性原理

程序的局部性原理

  • 程序在一定的时间段内通常只访问较小的地址空间
  • 两种局部性:–时间局部性
    • 空间局部性地址空间访问概率

第8页:现代计算机的层次存储器系统

现代计算机的层次存储器系统

  • 利用程序的局部性原理:–以最低廉的价格提供尽可能大的存储空间
    • 以最快速的技术实现高速存储访问ControlDatapathSecondaryStorage(Disk)ProcessorRegistersMainMemory(DRAM)SecondLevelCache(SRAM)On-ChipCache1nsMillisecondsGBSpeed (ns):10ns50-100nsMB-GB100sSize (bytes):KB-MBTertiaryStorage(Disk)SecondsTerabytes

第9页:SRAM典型时序写时序

SRAM典型时序写时序

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现存储器读写过程中地址、片选与读写命令的时序配合。

  • OE

第10页:动态存储器的存储原理

动态存储器的存储原理

  • 动态存储器,是用金属氧化物半导体(MOS)的单个MOS管来存储一个二进制位(bit)信息的。信息被存储在MOS管T的源极的寄生电容CS中,例如,用CS中存储有电荷表示1,无电荷表示0。

第11页:动态存储器与内存设计

11+ +--VDDCS字线位线T写1:使位线为低电平,高,T导通,低,T截止

低若CS上无电荷,则VDD向CS充电;把1信号写入了电容CS中。若CS上有电荷,则CS的电荷不变,保持原记忆的1信号不变。

第12页:动态存储器与内存设计

12+ +--VDDCS字线位线T写1:使位线为低电平,高,T导通,低,T截止

低若CS上无电荷,则VDD向CS充电;把1信号写入了电容CS中。若CS上有电荷,则CS的电荷不变,保持原有的内容1不变;。

第13页:动态存储器与内存设计

13+ +--VDDCS字线位线T高,T导通,低,T截止

高写0:使位线为高电平,若CS上有电荷,则CS通过T放电;若CS上无电荷,则CS无充放电动作,保持原记忆的0信号不变。把0信号写入了电容CS中。

第14页:字线位线T高

14VDDCS字线位线T高,T导通,低,T截止

高写0:使位线为高电平,若CS上有电荷,则CS通过T放电;若CS上无电荷,则CS无充放电动作,保持原记忆的0信号不变。把0信号写入了电容CS中。

第15页:动态存储器与内存设计

动态存储器与内存设计

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现动态存储器原理与教学计算机存储器设计。

第16页:光盘存储设备

光盘存储设备

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现只读、一次写与可擦写光盘的存储原理与组成。

第17页:破坏性读出

破坏性读出:读操作后,被读单元的内容一定被清为零,必须把刚读出的内容立即写回去,通常称其为预充电延迟,它影响存储器的工作频率,在结束预充电前不能开始下一次读。要定期刷新:在不进行读写操作时,DRAM存储器的各单元处于断路状态,由于漏电的存在,保存在电容CS上的电荷会慢慢地漏掉,为此必须定时予以补充,通常称其为刷新操作。

刷新不是按字处理,而是每次刷新一行,即为连接在同一行上所有存储单元的电容补充一次能量。刷新有两种常用方式:集中刷新,停止内存读写操作,逐行将所有各行刷新一遍;分散刷新,每一次内存读写后,刷新一行,各行轮流进行。

或在规定的期间内,如2 ms,能轮流把所有各行刷新一遍。快速分页组织的存储器:行、列地址要分两次给出,但连续地读写用到相同的行地址时,也可以在前一次将行地址锁存,之后仅送列地址,以节省送地址的时间,支持这种运行方式的被称为快速分页组织的存储器。

第18页:动态存储器

动态存储器

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现动态存储器芯片的读写原理与刷新要求。

  • 数据总线

第19页:DRAM写时序

19DRAM写时序ADOE_L256K x

  • DRAM写访问开始于:–RAS_L信号有效
    • 两种写方式: WE_L信号早和晚于CAS_L信号有效

第20页:DRAM读时序

20DRAM读时序ADOE_L256K x

  • DRAM读访问开始于:–RAS_L信号有效
    • 两种读方式:OE-L早于或晚于CAS_L有效Junk读出数据High Z

第21页:静态和动态存储器芯片特性

静态和动态存储器芯片特性

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现动态存储器芯片的读写原理与刷新要求。

第22页:主存储器的多体结构为了提高计算机系统

主存储器的多体结构为了提高计算机系统的工作效率,需要提高主存储器的读写速度

为此可以实现多个能够独立地执行读写的主存储器体,以便提高多个存储体之间并行读写的能力。多体结构同时适用于静态和动态的存储器。

考虑到程序运行的局部性原理,多个存储体应按低位地址交叉编址的方式加以组织。类似的也可按一体多字的方式设计存储器。

第23页:地址寄存器主存储器存储体

地址寄存器主存储器存储体

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现主存储器的组成、读写过程与字位扩展方案。

  • 主存储器
  • 数据总线
  • 地址寄存器

第24页:地址寄存器数据总线

地址寄存器数据总线

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现总线的概念、分类、仲裁与通讯方式。

  • 数据总线
  • 地址寄存器

第25页:高速缓冲存储器

  • 程序的局部性原理:–时间局部性:最近被访问过的程序和数据很可能再次被访问
    • 空间局部性:CPU很可能访问最近被访问过的地址单元附近的地址单元。
  • 利用程序的局部性原理:–使用尽可能大容量的廉价、低速存储器存放程序和数据。–使用高速存储器来满足CPU对速度的要求。
  • DRAM速度慢,但容量大,价格低
    • 可用于实现大容量的主存储器系统。
  • SRAM速度快,但容量小,价格高
    • 用于实现高速缓冲存储器Cache。

第26页:小结:设计主存储器

  • 设计主存储器
    • 确定最大寻址空间
    • 确定字长
    • 确定读写时序
    • 得到控制信号

第27页:TEC-2000教学计算机系统

教学计算机TEC-2000存储器设计

  • 设计要求
    • 需要ROM来存放监控程序
    • 需要RAM供用户和监控程序使用
    • 能够让用户进行扩展
  • 设计原则
    • 尽量简单,能体现出原理课教学要求
    • 不追求高速度

第28页:控制总线设计

控制总线设计

  • 时钟信号
    • 与CPU时钟同步(降低了CPU主频)
  • 读写信号/MIOREQ/WE000内存写/MWR接/WE001内存读/MRD接/OE010I/O写/WR011I/O读/RD1XX不用用DC3实现

第29页:TEC-2000教学计算机系统

TEC-2000教学计算机系统

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现教学计算机的硬件组成、软件配置与支持的教学实验。

  • 译码器

第30页:地址总线设计

地址总线设计

  • 片选信号
    • A15、A14和A13最高位地址译码产生
    • /MMREQ作为使能信号
  • 地址信号
    • A10~A0:11位地址
    • 1个地址单元对应4个地址
    • 来自地址寄存器用DC5实现

第31页:TEC-2000教学计算机系统

TEC-2000教学计算机系统

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现教学计算机的硬件组成、软件配置与支持的教学实验。

  • 译码器

第32页:微程序控制器部件组成

微程序控制器部件组成

本页为结构/流程示意图,图中标注的主要部件与信号如下,重点体现56位微指令字长、下地址字段与控制存储器的芯片配置。

  • 数据总线
  • 地址总线
  • OE

第33页:内存储器和串行接口存储器由2组8位区组成

内存储器和串行接口存储器由2组8位区组成,可运行于8位或16位方式;每组由1片2716 RAM和2片28C64 ROM芯片组成,亦可选用2764 ROM芯片。对16位地址的最高3位译码,产生8个存储器片选信号,各自对应8192的存储容量。

2路串行接口,其中一路正常运行,另一路经扩展后方可使用。对8位IO端口地址的最高4位译码,产生8个IO芯片的片选信号。

1片双2-4译码器139给出内存和IO的读写命令信号。2片GAL和2片373寄存器用于支持中断响应与处理实验。

第34页:数据总线设计

数据总线设计

  • 与内部总线相连
  • 三态门控制

第35页:思考题和作业1.多级结构

思考题和作业1.多级结构的存储器系统由哪几级组成?每一级存储器一般使用何种类型的存储介质?这些介质的主要特性是什么?在多级结构的存储器系统中,何谓信息的一致性和包含性原则?2.存储器读写操作时,地址信号、片选信号、读写命令、读出的数据或写入的数据在时序配合上要满足什么关系?作业请在网络学堂下载,请使用手写版交作业。本次作业和下次的Cache作业一起在下周五交。

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