14 数字电子技术实验(1).pptx

第1页：实验一 实验仪器的使用及集成门电路参数测

数字电子技术实验实验一实验仪器的使用及集成门电路参数测试实验二组合逻辑电路设计

第2页：TTL集成门电路参数测试及功能检测

实验内容1.数字实验逻辑箱的使用2.TTL集成门电路参数测试及功能检测3.数字密码锁的设计

第3页：测试+5V电源

• S3～S0：有原、反两种信号输出S7～S4：仅有原变量输出1.数字实验逻辑箱的使用～220V电源区信号源区导线放置区实验区辅助区AC220V显示区L1L8L6L5L4L3L7L2由面包板组成K1K2K3K4K5K6K7K8CH1CH2+5VGND+5V±9V—9V+9V数据开关上：1下：0连续脉冲源10K470数据灯：高电平点亮总电源开关5V电源开关输入代码：41-41-41-4455周期调节：1→T增加0→T减少Vp内容：
• 测试+5V电源；
• 测试数据开关；
• 测试数据灯；
• 测试脉冲源。

第4页：面包板

面包板简介列内已相连段内内部相连引电源(5V)引地线(GND)集成电路段内内部相连

第5页：了解各引脚的逻辑功能

• TTL集成门电路参数测试及功能检测标志GNDVCC(5V)74系列集成电路使用注意：
• 了解各引脚的逻辑功能。
• 正确施加电源（＋5V、GND）。！双列直插式封装28 DIP123141528

第6页：测输出高电平

• 参数测试及功能检测具体电路参考实验讲义内容：
• 测输出高电平；
• 测输出低电平；
• 与非逻辑功能测试；
• 用与非门实现异或门。

第7页：数字密码锁真值表

3.数字密码锁的设计数字锁ABCD输入密码E使能控制KZ开锁报警密码锁模型设输入密码ABCD＝1101时：解：使能E＝1时：密码正确，开锁K＝1。密码错误，报警Z＝1。ZKA B C DE00×0100 0 0 0110┇1011 1 0 11101 1 1 01101 1 1 11简化真值表使能E＝0时：不开锁，不报警。

第8页：化简与变换

化简与变换

第9页：数字密码锁设计

电路全部原变量输入（6个门）允许反变量输入（5个门）

第10页：实验三预习要求任务

• 实验三预习要求任务：用三种方法实现全减器
• 异或门（74LS86）
• 译码器（74LS138）
• 数据选择器（74LS153）可用辅助门：74LS00、74LS20预习要求：有完整的电路设计步骤：变量设定、真值表、降维卡诺图、表达式、电路图（表达式和电路一致）。简述工作原理。