38 第八章 原子吸收光谱分析法.8.ppt

第1页：第八章 原子吸收分光光度分析法一、概述二

第八章 原子吸收分光光度分析法一、概述二

• 第八章 原子吸收分光光度分析法
• 一、概述
• 二、原子吸收光谱的产生
• 三、谱线轮廓与谱线变宽
• 四、积分吸收与峰值吸收
• 五、基态原子数与原子化温度
• 六、定量基础第一节原子吸收光谱分析基本原理

第2页：原子吸收现象

原子吸收现象

• 原子吸收现象：原子蒸气对其原子共振辐射吸收的现象；
• 1802年被人们发现；
• 1955年以前，一直未用于分析化学，为什么？
• 澳大利亚物理学家Walsh A（瓦尔西）发表了著名论文：
• 《原子吸收光谱法在分析化学中的应用》
• 奠定了原子吸收光谱法的基础，之后迅速发展。特点：
• (1) 检出限低，10-10～10-14 g；
• (2) 准确度高，1%～5%；
• (3) 选择性高，一般情况下共存元素不干扰；
• (4)应用广，可测定70多个元素（各种样品中）；
• 局限性：难熔元素、非金属元素测定困难、不能同时多元素

第3页：二、 原子吸收光谱的产生

二、 原子吸收光谱的产生

• 1.原子的能级与跃迁
• 第一激发态,吸收一定频率的辐射能量。
• 产生共振吸收线（简称共振线）吸收光谱
• 激发态
• 基态发射出一定频率的辐射。
• 产生共振吸收线（也简称共振线）发射光谱

第4页：2.元素的特征谱线

2.元素的特征谱线

• （1）各种元素的原子结构和外层电子排布不同
• 第一激发态:
• 跃迁吸收能量不同——具有特征性。
• （2）各种元素的基态
• 第一激发态
• 最易发生，吸收最强，最灵敏线。特征谱线。
• （3）利用原子蒸气对特征谱线的吸收可以进行定量分析

第5页：三、 谱线的轮廓与谱线变宽

三、 谱线的轮廓与谱线变宽

• 原子结构较分子结构简单，理论上应产生线状光谱吸收线。
• 实际上用特征吸收频率辐射光照射时，获得一峰形吸收(具有一定宽度)。
• 由：It=I0e-Kvb，透射光强度It和吸收系数及辐射频率有关。以Kv与
• 作图：表征吸收线轮廓(峰)的参数：中心频率
• O(峰值频率) ：最大吸收系数对应的频率；中心波长：λ(nm)半宽度：Δ

第6页：吸收峰变宽原因

吸收峰变宽原因

• 吸收峰变宽原因：
• （1）自然宽度照射光具有一定的宽度。
• （2）温度变宽（多普勒变宽）ΔVo多普勒效应：一个运动着的原子发出的光，如果运动方向离开观察者（接受器），则在观察者看来，其频率较静止原子所发的频率低，反之，高。

第7页：（3）压力变宽

（3）压力变宽

• （3）压力变宽（劳伦兹变宽，赫鲁兹马克变宽）ΔVL由于原子相互碰撞使能量发生稍微变化。劳伦兹（Lorentz）变宽：待测原子和其他原子碰撞。随原子区压力增加而增大。赫鲁兹马克（Holtsmark）变宽（共振变宽）：同种原子碰撞。浓度高时起作用，在原子吸收中可忽略
• （4）自吸变宽光源空心阴极灯发射的共振线被灯内同种基态原子所吸收产生自吸现象。灯电流越大，自吸现象越严重。
• （5）场致变宽外界电场、带电粒子、离子形成的电场及磁场的作用使谱线变宽的现象；影响较小；在一般分析条件下ΔVo为主。

第8页：四、 积分吸收和峰值吸收

四、 积分吸收和峰值吸收1.积分吸收钨丝灯光源和氘灯，经分光后，光谱通带0.2mm。而原子吸收线半宽度：10-3mm。如图：若用一般光源照射时，吸收光的强度变化仅为0.5%。灵敏度极差。理论上：

第9页：讨论如果将公式左边求出

讨论如果将公式左边求出，即谱线下所围面积测量出（积分吸收）。即可得到单位体积原子蒸气中吸收辐射的基态原子数N0。这是一种绝对测量方法，现在的分光装置无法实现。(△λ=10-3，若λ取600nm，单色器分辨率R=λ/△λ=6×105)长期以来无法解决的难题！能否提供共振辐射（锐线光源），测定峰值吸收？

第10页：2.锐线光源在原子吸收分析中需要使用锐线

2.锐线光源在原子吸收分析中需要使用锐线

• 2.锐线光源在原子吸收分析中需要使用锐线光源，测量谱线的峰值吸收，锐线光源需要满足的条件：
• （1）光源的发射线与吸收线的ν0一致。
• （2）发射线的Δν1/2小于吸收线的Δν1/2。提供锐线光源的方法：空心阴极灯

第11页：3.峰值吸收采用锐线光源进行测量，则

3.峰值吸收采用锐线光源进行测量，则Δνe<Δνa，由图可见，在辐射线宽度范围内，Kν可近似认为不变，并近似等于峰值时的吸收系数K0将It=I0e-Kvb代入上式：则：

第12页：峰值吸收在原子吸收中

峰值吸收在原子吸收中

• 峰值吸收在原子吸收中，谱线变宽主要受多普勒效应影响，则：上式的前提条件：
• （1）Δνe<Δνa；
• （2）辐射线与吸收线的中心频率一致。

第13页：五、 基态原子数与原子化温度原子吸收光谱

五、 基态原子数与原子化温度原子吸收光谱是利用待测元素的原子蒸气中基态原子与共振线吸收之间的关系来测定的。需要考虑原子化过程中，原子蒸气中基态原子与待测元素原子总数之间的定量关系。热力学平衡时，两者符合Boltzmann分布定律：上式中Pj和PO分别为激发态和基态的统计权重，激发态原子数Nj与基态原子数No之比较小,<1%.可以用基态原子数代表待测元素的原子总数。公式右边除温度T外，都是常数。T一定，比值一定。

第14页：

第15页：六、 定量基础峰值吸收系数

六、 定量基础峰值吸收系数

当使用锐线光源时，可用K0代替Kv，则：A=kN0bN0∝N∝c（N0激发态原子数，N基态原子数，c待测元素浓度）所以：A=lg(IO/I)=K'c

第16页：一、 流程二、光源三、原子化装置四

一、 流程二、光源三、原子化装置四

• 一、 流程
• 二、光源
• 三、原子化装置
• 四、单色器
• 五、检测器第二节原子吸收光谱仪及主要部件第八章原子吸收光谱分析法

第17页：原子吸收仪器（1）

原子吸收仪器（1）

• 原子吸收仪器
• （1）

第18页：原子吸收仪器（2）

原子吸收仪器（2）

• 原子吸收仪器
• （2）

第19页：原子吸收仪器（3）

原子吸收仪器（3）

• 原子吸收仪器
• （3）

第20页：原子吸收仪器（4）

原子吸收仪器（4）

• 原子吸收仪器
• （4）

第21页：一、 流程1.特点(1)采用锐线光源

一、 流程1.特点(1)采用锐线光源

• 一、 流程
• 1.特点
• (1)采用锐线光源
• (2)单色器在火焰与检测器之间
• (3)原子化系统

第22页：2.原子吸收中的原子发射现象在原子化过程

2.原子吸收中的原子发射现象在原子化过程中，原子受到辐射跃迁到激发态后，处于不稳定状态，将再跃迁至基态，故既存在原子吸收，也有原子发射。但返回释放出的能量可能有多种形式，产生的辐射也不在一个方向上，但对测量仍将产生一定干扰。消除干扰的措施：将发射的光调制成一定频率；检测器只接受该频率的光信号；原子化过程发射的非调频干扰信号不被检测；

第23页：二、 光源1.作用提供待测元素的特征光谱

二、 光源1.作用提供待测元素的特征光谱

• 二、 光源
• 1.作用提供待测元素的特征光谱。获得较高的灵敏度和准确度。光源应满足如下要求；
• （1）能发射待测元素的共振线；
• （2）能发射锐线；
• （3）辐射光强度大，稳定性好。
• 2.空心阴极灯：结构如图所示（动画）

第24页：3.空心阴极灯的原理•施加适当电压时

3.空心阴极灯的原理•施加适当电压时

• 3.空心阴极灯的原理
• •施加适当电压时，电子将从空心阴极内壁流向阳极;
• •与充入的惰性气体碰撞而使之电离，产生正电荷，其在电场作用下，向阴极内壁猛烈轰击;
• •使阴极表面的金属原子溅射出来，溅射出来的金属原子再与电子、惰性气体原子及离子发生撞碰而被激发，于是阴极内辉光中便出现了阴极物质和内充惰性气体的光谱。
• •用不同待测元素作阴极材料，可制成相应空心阴极灯。
• •空心阴极灯的辐射强度与灯的工作电流有关。优缺点：
• （1）辐射光强度大，稳定，谱线窄，灯容易更换。
• （2）每测一种元素需更换相应的灯。

第25页：三、 原子化系统

三、 原子化系统1.作用将试样中离子转变成原子蒸气。（动画）

第26页：2.原子化方法火焰法无火焰法

2.原子化方法火焰法无火焰法—电热高温石墨管，激光（动画）

第27页：3.火焰原子化装置——雾化器和燃烧器

3.火焰原子化装置——雾化器和燃烧器

• 3.火焰原子化装置——雾化器和燃烧器。
• （1）雾化器结构如图所示主要缺点：雾化效率低。（动画）

第28页：原子化器

原子化器

说明：本页源文件提取到的文字较少，内容为标题或图示要点，建议对照原课件图片补充。

第29页：（2）火焰试样雾滴在火焰中，经蒸发，干燥

（2）火焰试样雾滴在火焰中，经蒸发，干燥，离解（还原）等过程产生大量基态原子。火焰温度的选择：（a）保证待测元素充分离解为基态原子的前提下，尽量采用低温火焰；（b）火焰温度越高，产生的热激发态原子越多；（c）火焰温度取决于燃气与助燃气类型，常用空气—乙炔最高温度2600K能测35种元素。

第30页：火焰类型：化学计量火焰：温度高，干扰少

火焰类型：化学计量火焰

温度高，干扰少，稳定，背景低，常用。富燃火焰：还原性火焰，燃烧不完全，测定较易形成难熔氧化物的元素Mo、Cr稀土等。贫燃火焰：火焰温度低，氧化性气氛，适用于碱金属测定。

第31页：

第32页：火焰种类及对光的吸收：选择火焰时

火焰种类及对光的吸收

选择火焰时，还应考虑火焰本身对光的吸收。根据待测元素的共振线，选择不同的火焰，可避开干扰：例：As的共振线193.7nm由图可见，采用空气-乙炔火焰时，火焰产生吸收，而选氢-空气火焰则较好；空气-乙炔火焰：最常用；可测定30多种元素；N2O-乙炔火焰：火焰温度高，可测定的增加到70多种。

第33页：4.石墨炉原子化装置（1）结构如图所示

4.石墨炉原子化装置（1）结构如图所示

• 4.石墨炉原子化装置
• （1）结构如图所示：外气路中Ar气体沿石墨管外壁流动，冷却保护石墨管；内气路中Ar气体由管两端流向管中心，从中心孔流出，用来保护原子不被氧化，同时排除干燥和灰化过程中产生的蒸汽。（动画）

第34页：（2）原子化过程原子化过程分为干燥、灰化

（2）原子化过程原子化过程分为干燥、灰化（去除基体）、原子化、净化（去除残渣）四个阶段，待测元素在高温下生成基态原子。（动画）

第35页：（3）优缺点优点：原子化程度高

（3）优缺点优点

原子化程度高，试样用量少（1-100μL），可测固体及粘稠试样，灵敏度高，检测极限10-12g/L。缺点：精密度差，测定速度慢，操作不够简便，装置复杂。

第36页：5.其他原子化方法

5.其他原子化方法（1）低温原子化方法主要是氢化物原子化方法，原子化温度700~900゜C；主要应用于：As、Sb、Bi、Sn、Ge、Se、Pb、Ti等元素原理：在酸性介质中，与强还原剂硼氢化钠反应生成气态氢化物。例AsCl3+4NaBH4+HCl+8H2O=AsH3+4NaCl+4HBO2+13H2将待测试样在专门的氢化物生成器中产生氢化物，送入原子化器中检测。特点：原子化温度低；灵敏度高（对砷、硒可达10-9g）；基体干扰和化学干扰小；

第37页：（2）冷原子化法低温原子化方法

（2）冷原子化法低温原子化方法（一般700~900゜C）；主要应用于：各种试样中Hg元素的测量；原理：将试样中的汞离子用SnCl2或盐酸羟胺完全还原为金属汞后，用气流将汞蒸气带入具有石英窗的气体测量管中进行吸光度测量。特点：常温测量；灵敏度、准确度较高（可达10-8g汞）；

第38页：四、 单色器

四、 单色器

• 1.作用将待测元素的共振线与邻近线分开。
• 2.组件色散元件（棱镜、光栅），凹凸镜、狭缝等。
• 3.单色器性能参数
• （1）线色散率（D）两条谱线间的距离与波长差的比值ΔX/Δλ。实际工作中常用其倒数Δλ/ΔX
• （2）分辨率仪器分开相邻两条谱线的能力。用该两条谱线的平均波长与其波长差的比值λ/Δλ表示。
• （3）通带宽度（W）指通过单色器出射狭缝的某标称波长处的辐射范围。当倒色散率（D）一定时，可通过选择狭缝宽度（S）来确定：W=D

第39页：五、 检测系统主要由检测器、放大器

五、 检测系统主要由检测器、放大器

• 五、 检测系统主要由检测器、放大器、对数变换器、显示记录装置组成。
• 1.检测器--------将单色器分出的光信号转变成电信号。如：光电池、光电倍增管、光敏晶体管等。分光后的光照射到光敏阴极K上，轰击出的光电子又射向光敏阴极1，轰击出更多的光电子，依次倍增，在最后放出的光电子比最初多到106倍以上，最大电流可达10μA，电流经负载电阻转变为电压信号送入放大器。
• 2.放大器------将光电倍增管输出的较弱信号，经电子线路进一步放大。
• 3.对数变换器------光强度与吸光度之间的转换。
• 4.显示、记录新仪器配置：原子吸收计算机工作站

第40页：第八章 原子吸收分光光度分析法一

第八章 原子吸收分光光度分析法一

• 第八章 原子吸收分光光度分析法
• 一、光谱干扰及抑制
• 二、物理干扰及抑制
• 三、化学干扰及抑制
• 四、背景干扰及抑制第三节干扰及其抑制

第41页：一、 光谱干扰待测元素的共振线与干扰物质

一、 光谱干扰待测元素的共振线与干扰物质

• 一、 光谱干扰待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种：
• 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。
• 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。换用纯度较高的单元素灯减小干扰。
• 3.灯的辐射中有连续背景辐射。用较小通带或更换灯

第42页：二、 物理干扰及抑制试样在转移

二、 物理干扰及抑制试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应，主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。

第43页：三、 化学干扰及抑制指待测元素与其它组分

三、 化学干扰及抑制指待测元素与其它组分

• 三、 化学干扰及抑制指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。
• 1.化学干扰的类型
• （1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子减少。例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。
• （2）待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素）。

第44页：2.化学干扰的抑制通过在标准溶液和试液中

2.化学干扰的抑制通过在标准溶液和试液中

• 2.化学干扰的抑制通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑制或减少化学干扰：
• （1）释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。
• （2）保护剂—与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。
• （3）饱和剂—加入足够的干扰元素，使干扰趋于稳定。例：用N2O—C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加入300mgL-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。
• （4）电离缓冲剂—加入大量易电离的一种缓冲剂以抑制待测元素的电离。例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离。

第45页：四、 背景干扰及校正方法背景干扰主要是指

四、 背景干扰及校正方法背景干扰主要是指

• 四、 背景干扰及校正方法背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。
• 1.分子吸收与光散射分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重如何消除？

第46页：2.背景干扰校正方法

2.背景干扰校正方法(1)氘灯连续光谱背景校正旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰；连续光谱通过时：测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)；共振线通过时，测定总吸收；差值为有效吸收；

第47页：（2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法

（2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象；校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收；见下页图示：方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。优点：校正能力强（可校正背景A1.2～2.0）；可校正波长范围宽：190～900nm；

第48页：

第49页：一、 特征参数二、分析条件选择三

一、 特征参数二、分析条件选择三

• 一、 特征参数
• 二、分析条件选择
• 三、定量分析方法
• 四、应用第四节分析条件的选择与应用第八章原子吸收光谱分析法

第50页：一、 特征参数1.灵敏度(1)灵敏度

一、 特征参数1.灵敏度(1)灵敏度

• 一、 特征参数
• 1.灵敏度
• (1)灵敏度（S）——指在一定浓度时，测定值（吸光度）的增量（ΔA）与相应的待测元素浓度（或质量）的增量（Δc或Δm）的比值：Sc=ΔA/Δc或Sm=ΔA/Δm
• (2)特征浓度——指对应与1%净吸收（IT-IS）/IT=1/100的待测物浓度（cc），或对应与0.0044吸光度的待测元素浓度.cc=0.0044Δc/ΔA单位：μg(mol1%)-1
• (3)特征质量mc=0.0044Δm/ΔA单位：g(mol1%)-1

第51页：2.检出极限在适当置信度下

2.检出极限在适当置信度下

• 2.检出极限在适当置信度下，能检测出的待测元素的最小浓度或最小量。用接近于空白的溶液，经若干次（10-20次）重复测定所得吸光度的标准偏差的3倍求得。
• (1)火焰法cDL=3Sb/Sc单位：μg
• ml-1
• (2)石墨炉法mDL=3Sb/SmSb：标准偏差Sc（Sm）：待测元素的灵敏度，即工作曲线的斜率。

第52页：二、 测定条件的选择

二、 测定条件的选择

• 1.分析线一般选待测元素的共振线作为分析线，测量高浓度时，也可选次灵敏线
• 2.通带（可调节狭缝宽度改变）无邻近干扰线（如测碱及碱土金属）时，选较大的通带，反之（如测过渡及稀土金属），宜选较小通带。
• 3.空心阴极灯电流在保证有稳定和足够的辐射光通量的情况下，尽量选较低的电流。
• 4.火焰依据不同试样元素选择不同火焰类型。
• 5.观测高度调节观测高度（燃烧器高度），可使元素通过自由原子浓度最大的火焰区，灵敏度高，观测稳定性好。

第53页：

第54页：三、 定量分析方法

三、 定量分析方法1.标准曲线法配制一系列不同浓度的标准试样，由低到高依次分析，将获得的吸光度A数据对应于浓度作标准曲线，在相同条件下测定试样的吸光度A数据，在标准曲线上查出对应的浓度值；或由标准试样数据获得线性方程，将测定试样的吸光度A数据带入计算。注意在高浓度时，标准曲线易发生弯曲，压力变宽影响所致；

第55页：2.标准加入法取若干份体积相同的试液

2.标准加入法取若干份体积相同的试液（cX），依次按比例加入不同量的待测物的标准溶液（cO），定容后浓度依次为：cX，cX+cO，cX+2cO，cX+3cO，cX+4cO……分别测得吸光度为：AX，A1，A2，A3，A4……。以A对浓度c做图得一直线，图中cX点即待测溶液浓度。该法可消除基体干扰；不能消除背景干扰；

第56页：四、 应用应用广泛的微量金属元素的首选测

四、 应用应用广泛的微量金属元素的首选测

• 四、 应用应用广泛的微量金属元素的首选测定方法(非金属元素可采用间接法测量)。
• (1)头发中微量元素的测定—微量元素与健康关系；
• (2)水中微量元素的测定—环境中重金属污染分布规律；
• (3)水果、蔬菜中微量元素的测定；
• (4)矿物、合金及各种材料中微量元素的测定；
• (5)各种生物试样中微量元素的测定。

第57页：

第58页：一、 概述二、基本原理三

一、 概述二、基本原理三

• 一、 概述
• 二、基本原理
• 三、原子荧光光度计第五节原子荧光光谱分析法第八章原子吸收光谱分析法

第59页：一、 概述原子在辐射激发下发射的荧光强度

一、 概述原子在辐射激发下发射的荧光强度

• 一、 概述原子在辐射激发下发射的荧光强度来定量分析的方法；1964年以后发展起来的分析方法；属发射光谱但所用仪器与原子吸收仪器相近；
• 1.特点
• (1)检出限低、灵敏度高Cd：10-12g
• cm-3；Zn：10-11g
• cm-3；20种元素优于AAS
• (2)谱线简单、干扰小
• (3)线性范围宽（可达3～5个数量级）
• (4)易实现多元素同时测定（产生的荧光向各个方向发射）
• 2.缺点存在荧光淬灭效应、散射光干扰等问题；

第60页：二、 基本原理

二、 基本原理

• 1.原子荧光光谱的产生过程过程：当气态原子受到强特征辐射时，由基态跃迁到激发态，约在10-8s后，再由激发态跃迁回到基态，辐射出与吸收光波长相同或不同的荧光；特点：
• （1）属光致发光；二次发光；
• （2）激发光源停止后，荧光立即消失；
• （3）发射的荧光强度与照射的光强有关；
• （4）不同元素的荧光波长不同；
• （5）浓度很低时，强度与蒸气中该元素的密度成正比，定量依据(适用于微量或痕量分析)；

第61页：2.原子荧光的产生类型三种类型：共振荧光

2.原子荧光的产生类型三种类型：共振荧光

• 2.原子荧光的产生类型三种类型：共振荧光、非共振荧光与敏化荧光
• （1）共振荧光共振荧光：气态原子吸收共振线被激发后，激发态原子再发射出与共振线波长相同的荧光；见图A、C；热共振荧光：若原子受热激发处于压稳态，再吸收辐射进一步激发，然后再发射出相同波长的共振荧光；见图B、D；

第62页：（2）非共振荧光当荧光与激发光的波长不相

（2）非共振荧光当荧光与激发光的波长不相同时，产生非共振荧光；分为：直跃线荧光、阶跃线荧光、anti-Stokes荧光三种；直跃线荧光（Stokes荧光）：跃回到高于基态的亚稳态时所发射的荧光；荧光波长大于激发线波长（荧光能量间隔小于激发线能量间隔）；a b c d

第63页：直跃线荧光（Stokes荧光）Pb原子

直跃线荧光（Stokes荧光）Pb原子：吸收线283.13 nm；荧光线407.78nm；同时存在两种形式：铊原子：吸收线337.6 nm；共振荧光线337.6nm；直跃线荧光535.0nm；a b c d

第64页：阶跃线荧光：光照激发

阶跃线荧光：光照激发，非辐射方式释放部分能量后，再发射荧光返回基态；荧光波长小于激发线波长（荧光能量间隔大于激发线能量间隔）；非辐射方式释放能量：碰撞，放热；光照激发，再热激发，返至高于基态的能级，发射荧光，图(c)B、D ；Cr原子：吸收线359.35nm；再热激发，荧光发射线357.87nm，图(c)B、Da b c d

第65页：anti-Stokes荧光

anti-Stokes荧光

荧光波长小于激发线波长；先热激发再光照激发(或反之)，再发射荧光直接返回基态；图(d)；铟原子：先热激发，再吸收光跃迁451.13nm；发射荧光410.18nm，图(d)A、C ；a b c d

第66页：（3）敏化荧光受光激发的原子与另一种原子

（3）敏化荧光受光激发的原子与另一种原子碰撞时，把激发能传递另一个原子使其激发，后者发射荧光；火焰原子化中观察不到敏化荧光；非火焰原子化中可观察到。所有类型中，共振荧光强度最大，最为有用。

第67页：3.荧光猝灭与荧光量子效率荧光猝灭

3.荧光猝灭与荧光量子效率荧光猝灭

• 3.荧光猝灭与荧光量子效率荧光猝灭：受激发原子与其他原子碰撞，能量以热或其他非荧光发射方式给出，产生非荧光去激发过程，使荧光减弱或完全不发生的现象。荧光猝灭程度与原子化气氛有关，氩气气氛中荧光猝灭程度最小。如何恒量荧光猝灭程度？荧光量子效率：
• f 发射荧光的光量子数；
• a吸收的光量子数之比；荧光量子效率≈1

第68页：4.待测原子浓度与荧光的强度当光源强度稳

4.待测原子浓度与荧光的强度当光源强度稳

• 4.待测原子浓度与荧光的强度当光源强度稳定、辐射光平行、自吸可忽略，发射荧光的强度If 正比于基态原子对特定频率吸收光的吸收强度Ia ；If =
• Ia在理想情况下：I0原子化火焰单位面积接受到的光源强度；A为受光照射在检测器中观察到的有效面积；K0为峰值吸收系数；l 为吸收光程；N为单位体积内的基态原子数；

第69页：三、 原子荧光光度计1.仪器类型单通道

三、 原子荧光光度计1.仪器类型单通道

• 三、 原子荧光光度计
• 1.仪器类型单通道：每次分析一个元素；多通道：每次可分析多个元素；色散型：带分光系统；非色散型：采用滤光器分离分析线和邻近线；特点：光源与检测器成一定角度；

第70页：多道原子荧光仪多个空心阴极灯同时照射

多道原子荧光仪多个空心阴极灯同时照射，可同时分析多个元素

第71页：2.主要部件光源：高强度空心阴极灯

2.主要部件光源

高强度空心阴极灯、无极放电灯、可调频激光器；可调频激光器：高光强、窄谱线；原子化装置：与原子吸收法相同；色散系统：光栅、滤光器；检测系统：